▶装置概要
単結晶X線構造解析(Single-Crystal X-ray Diffraction)から得られる原子配列の情報は， 材料物質の特性を最大限に発揮させるために必要不可欠な情報である． しかし，原子番号が近接する元素間の散乱能に大きな差が生じないＸ線回折法の場合， たとえば，MnおよびFeなどの原子番号が隣り合う元素の構造情報を独立に得る事は容易ではなかった．
この問題解決の方法のひとつとして，元素に固有な吸収端における異常分散効果を積極的に利用する Ｘ線異常散法(Anomalous X-ray Scattering)がある．本研究グループは， 物質構造科学研究所フォトンファクトリー(BL-6C)に，単結晶Ｘ線異常散乱法を実施できる専用装置を整備し， 独創的な構造解析を行っている．
目的元素周囲の構造を解明できる点に関してはXAFS法と類似するが，非晶質物質を含めて， 複雑な結晶構造の解析に適用できる点は，単結晶構造解析法の大きな利点である． 汎用型四軸回折計(RIGAKU AFC-7R)を利用するBL-6Cの単結晶異常散乱装置は，ダイアモンド位相子を用いた円偏光X線利用している．
