▶装置概要
単結晶構造解析法の実施に際しては，イメージングプレートやピクセル検出器などの 2次元検出器を装備する回折計の利用が今般の主流です． しかし，格子定数を正確に求めるあるいは反射強度のプロファイルを解析したい場合など， 従来型のシンチレーションカウンタを用いた四軸回折計の利用も重要です．
本グループは， 18 kWの回転対陰極高輝度X線発生装置を組み合わせた四軸回折計(AFC-7R)をこの目的に利用しています． 本装置には，約1100Kまでの高温下で結晶構造の変化を解明する窒素吹付型高温装置も付属しています．
本装置は，本所附属新素材共同研究開発センターの共同利用装置として登録されているため, その利用には附属新素材共同研究開発センターの共同利用申請が必要です.
