▶装置概要
物質を構成する原子配列の情報を得るためには，粉末X線解析法の適用が一般的です． 試料を粉砕し，得られた回折ピークから得られる面間隔およびその相対的強度を データベースに照らし合わせ結晶構造を同定します．
汎用構造解析ソフトと組み合わせて，正確な格子定数を導出するあるいは Rietveld法およびMEM法を用いて原子位置を正確に決定することも可能です．
本グループの粉末X線構造解析装置には，最高温度 1350℃の環境で粉末X線パターンの 測定ができる高温装置を付属させることができます． 通常は，Cu-Kα線を用いた測定を行いますが，試料の種類によっては Co-KαおよびFe-Kα線を選択します．
